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芯片厚度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)?

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對(duì)集成電路來(lái)說(shuō):一般來(lái)說(shuō)4寸晶圓的厚度為0.520mm,6寸晶圓的厚度為0.670mm左右。晶圓必須要減薄,否則對(duì)劃片刀的損耗很大,而且要?jiǎng)潈傻丁?/p>

我們做DIP封裝,4寸晶圓要減薄到0.300mm;6寸晶圓要減薄到0.320mm左右,誤差0.020mm。量測(cè)儀器片厚用千分尺就行了,膜厚一般用熱波儀器量測(cè),通過(guò)量測(cè)不同分布的多點(diǎn)厚度,求平均得出膜厚,一般同時(shí)反映膜的均勻性,并可見(jiàn)模擬等高線

芯片厚度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)?-第1張圖片-贊晨新材料

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